半导体参数测试系统 XJ2712-SCS

设备介绍

    XJ2712-SCS是一套极具性价比的半导体参数测试系统，采用开尔文四线法，包括自动电桥平衡高精度LCR测试仪与Keithley 2450源测量单元。功能上可以实现二端器件的电流-电压曲线扫描，电流与电压应力，三端器件的转移和输出特性曲线扫描，以及变频的电容-电压曲线扫描等功能，参数上对标Keithley 4200A-SCS。

技术参数

     > 电压与电流范围：200V/1.5A(直流)/10A(脉冲)
     > 最大输出功率：30W(直流), 200W(脉冲)
     > 分辨率：100nV/0.1fA
     > 精确度：0.02%+375uV/0.015%+120fA
     > CV电压范围：40V
     > CV频率范围：20Hz-2Mhz
     > CV直流偏置：10V

手动探针台