第六届电子器件辐射效应国际会议 （ICREED-2025）于2025年4月16 日至18日在中国扬州会议中心召开。会议介绍了核和空间辐射对电子和光子材料、器件、电路、传感器和系统的影响方面的最新成就，以及用于生产耐辐射（硬化）器件和集成电路的半导体加工技术和设计技术。吸引了全球科研机构、企业和专家的参与。无锡芯鉴半导体技术有限公司（以下简称“芯鉴半导体”）携自主研发的OPTOMOS-1000光电探测表征系统惊艳亮相，与国内外科研机构、产业界专家及行业同仁共探光电探测技术前沿发展与产业化应用。
会议期间，芯鉴半导体重点展示了OPTOMOS-1000系统的核心性能与创新应用场景。作为一款专为光电探测器研发设计的全参数测试平台，该系统凭借fA级超微电流检测（分辨率<10fA）、宽频噪声分析（底噪低至10⁻²⁸ A²/Hz）、亚微秒级动态响应测试（最快50ns光开关调制）及全自动光谱标定等核心技术，成为现场关注的焦点。在技术演示环节，无锡芯鉴通过实物操作+数据可视化的形式，呈现了OPTOMOS-1000在多个场景下的应用成果。OPTOMOS-1000的模块化设计与智能化软件平台，解决了传统测试设备分散、效率低、精度不足的痛点，为探测器研发提供了高性价比的一站式解决方案。
在研讨会上，芯鉴半导体的展位吸引了众多参会者的关注。专业的技术人员向来访者详细介绍了 OPTOMOS-1000 的技术特点和应用场景，展示了其在半导体材料与器件检测中的强大功能。参会者们对该设备表现出了浓厚的兴趣，纷纷与技术人员进行深入交流，探讨其在各自领域的应用可能性。
无锡芯鉴半导体技术有限公司总经理闫工表示：“作为国产高端测试设备厂商，我们始终以‘替代进口、超越进口’为目标。OPTOMOS-1000已在国内20余家顶尖科研院所及企业投入使用，未来我们将持续迭代技术，深化与全球客户的合作，推动光电探测技术从实验室到产业化的高效转化。”
公众号
微信