半导体参数测试系统 XJ2712-SCS

设备介绍

    XJ2712-SCS是一套极具性价比的半导体参数测试系统，采用开尔文四线法，包括自动电桥平衡高精度LCR测试仪与Keithley 2450源测量单元。功能上可以实现二端器件的电流-电压曲线扫描，电流与电压应力，三端器件的转移和输出特性曲线扫描，以及变频的电容-电压曲线扫描等功能，参数上对标Keithley 4200A-SCS。

技术参数

    > 量程：1A/200V/20W
     > 分辨率：10fA/10nV
     > 精确度：0.012%
     > CV电压范围：-40V~40V
     > CV频率范围：20Hz-2Mhz
     > CV直流偏置：10V

案例展示