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芯片电学测试

芯片电学测试

静态参数、特性曲线、等效电容、栅极等效电阻、栅极电荷特性、阻性开关特性、感性开关特性、二极管反向恢复特性、短路耐量(时间)、静态热阻、动态热阻、二极管浪涌测试仪(正向)、二极管浪涌测试仪(反向)、雷击浪涌发生器、峰值电压测试设备、雷击浪涌测试设备、人体放电式(Human Body Mode)测试、机器放电模式(Machine Mode) 测试、元件充/放电模式(Charged Device Mode) 测试、系统级静电放电模式 (ESD GUN TEST)、ESD I-V Curve测量、过度电、应力EOS (Electrical Overstress)

发布时间:2023-04-05

芯片失效分析

芯片失效分析

EMMI、OBIRCH、FIB、SEM、EDX、DECAP、OM、AFM(C-AFM)、XPS、TEM、FIB+TEM、XRD、Raman、椭偏仪、FT-IR等多个项目的失效检测及分析。

发布时间:2023-04-05