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锁相热成像系统Thermos-2000

锁相热成像系统Thermos-2000

热锁相红外热成像系统Thermos-2000,是一套无需光屏蔽箱,可在自然环境中进行的,用于 定位半导体器件中缺陷的系统。与稳态热成像相比, 它具有动态红外热成像的形式, 可以提供更好的信……

发布时间:2024-06-04

(超)低频噪声测试系统 LFN-2000

(超)低频噪声测试系统 LFN-2000

LFN-2000是一款极具性价比的测试系统,包括低频噪声测试、超低频噪声测试,IV、IT曲线扫描、脉冲电压与电流回读等功能。具有紧凑的结构, 包括微型光学平台,低噪声电流放大器…

发布时间:2024-02-27

微光显微镜系统HOTMOS-2000

微光显微镜系统HOTMOS-2000

微光显微镜是捕获半导体器件缺陷或失效点发 射微量光子的一种无损检测设备。在电激励作用 下,电子-空穴对或高能热载子以光子的形式释放 出多余动能。根据此原理,利用高增益低噪声的相机就能…

发布时间:2024-02-21

微光显微镜系统 HOTMOS-1000

微光显微镜系统 HOTMOS-1000

微光显微镜是捕获半导体器件缺陷或失效点发射微量光子的一种无损检测设备。在电激励作用下,电子-空穴对或高能热载子会以光子的形式释放出多余动能。根据此原理…

发布时间:2023-03-31

低频噪声测试系统 LFN-1000

低频噪声测试系统 LFN-1000

光电探测器的低频1/f 电流噪声谱与热噪声、 光电探测器的光响应时间 (几百纳秒级)、光电探测器的暗电流与光电流 (亚皮安级)、 光电探测器的量子效率与响应度 (与光谱仪配合)…

发布时间:2023-03-31

锁相热成像系统Thermos-1000

锁相热成像系统Thermos-1000

锁相技术和高端红外技术相结合;NETD<35mK;5um分辨率+0.001℃分辨率相结合;侦测低于5uw功耗的缺陷及uA及漏电流;可以实现缺陷XY以及Z方向的定位…

发布时间:2023-04-13

手动探针台(4寸/6寸/8寸/12寸)

手动探针台(4寸/6寸/8寸/12寸)

显微镜高度可自由调节,可任意角度旋转,支持订制,兼容常规显微镜,支架带限位装置;体 总倍率:8X - 200X(2X辅助物镜),单筒显微镜、体式显微镜,可选装LED

发布时间:2023-04-11